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      厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

      簡要描述:美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

      • 產品型號:
      • 廠商性質:代理商
      • 更新時間:2024-05-15
      • 訪  問  量:856

      詳細介紹

      厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

      厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

       

       

      邁拉膜、麥拉膜、XRF樣品膜、X-RAY樣品膜、ROHS測試膜、X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、mylar--美國Chemplex 250#

           

      現貨供應:XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、ROHS測試膜、X-ray樣品膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、Mylar膜、美國Chemplex樣品膜

        

      品名:XRF樣品膜Sample Film

      目錄編號CAT.NO250

      產品信息:Mylar(邁拉膜、麥拉膜),卷軸,厚度6.0 μm,寬7.6cm x 91.4m1/

      品牌:美國Chemplex Industries.Inc.(*)

      貨期:現貨

      起訂量:1盒以上。

       

      適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF

      日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞SkyrayJordan ValleyARLAsomaKevexMetorexSiemensSpectracePhilipsFisons

         

       

       

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